RU / EN

Выпуск №1, 2022 г.

ФИЗИКА ПЛАЗМЫ И ПЛАЗМЕННЫЕ МЕТОДЫ

Система ввода СВЧ-излучения гиротронного комплекса токамака Т-15МД на первой стадии работ

Авторы: Пименов И. С., Белоусов В. И., Борщеговский А. А., Жарков М. Ю., Неудачин С. В., Рой И. Н., Хайрутдинов Э. Н., Попов Л. Г., Агапова М. В., Бельнова Л. М.

Свечение второй положительной системы молекулярного азота в разряде с жидким электролитным катодом вблизи поверхности катода в воздухе при атмосферном давлении

Авторы: Чистолинов А. В., Якушин Р. В., Перфильева А. В.

ФОТОЭЛЕКТРОНИКА

Моделирование структуры бессвинцового перовскитного солнечного элемента

Авторы: Саенко А. В., Малюков С. П., Рожко А. А.

Исследование пропускной способности оптического канала связи с приемником информации в виде кремниевого фотоэлектронного умножителя в условиях фоновой засветки

Авторы: Гулаков И. Р., Зеневич А. О., Кочергина О. В.

Методы скоростной обработки видеоизображений с большим разбросом яркостей с использованием ПЛИС

Авторы: Сорокин Д. В., Драгунов Д. Э., Ляпустин М. Ю., Семенченко Н. А., Шарганов К. А.

Универсальные формулы для коэффициентов излучения и интегральных плотностей потоков излучения черных тел и субволновых частиц

Авторы: Свиридов А. Н., Сагинов Л. Д.

ФИЗИЧЕСКОЕ МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ

Ориентационная зависимость процессов травления подложек сапфира

Авторы: Исмаилов А. М., Муслимов А. Э.

Импульсный разряд в парах смесей цезия с металлами

Авторы: Гавриш С. В.

Технология разработки тонких рудных тел с предварительной лазерной дезинтеграцией прочных горных пород

Авторы: Чебан А. Ю.

Оптическая система контроля роста пленок Si3N4 на кварцевых подложках, нанесенных методом реактивного магнетронного распыления кремниевой мишени

Авторы: Кононов М. А., Растопов С. Ф.

ФИЗИЧЕСКАЯ АППАРАТУРА И ЕЁ ЭЛЕМЕНТЫ

Способы изготовления самонесущих рентгеношаблонов

Авторы: Генцелев А. Н., Баев С. Г.

Электрофизическая установка для электроформования полимерных материалов на диэлектрические подложки посредством смены полярности

Авторы: Воеводин В. В., Ребров И. Е., Хомич В. Ю., Ямщиков В. А.

Анализ влияния ограничительных факторов в методе дифференциального рассеяния при контроле поверхностных неоднородностей субнанометрового уровня профилей оптических деталей

Авторы: Денисов Д. Г.