Л.Б.Розенфельд
Научно-исследовательский институт электронной и ионной оптики,
Москва, Россия.
Б.Н. Васичев, М.О. Зотова
Московский государственный институт электроники и математики
(технический университет), Москва, Россия..
Приводится методика расчёта и анализ результатов по влиянию допусков на отклонение реального поля быстродействующих магнитных отклоняющих систем от расчётного. Оценено нарушение симметрии магнитного поля при сдвиге, удлинении и изгибе отдельных проводников магнитных отклоняющих систем и стигматоров.